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今天就沿着车规级零部件测试这个主题，和大家一起分享一下AEC-Q200 的环境试验条件。
AEC-Q200 的环境试验条件
AEC-Q200 的环境试验条件，主要是依据 MIL-STD-202 与 JEDEC22A-104 规范来制定的，不同零件的试验温度除了不一样之外，其施加电源 ( 电压、电流、负载 ) 要求也会有所不同，高温储存属于不施加偏压与负载，但高温下的工作寿命是必要的，温度循环和温度冲击，它们的测试目的和手法是不同的，温度循环下的高低温的变化需要温变率的控制，温冲击就不需要了，偏高湿度是通常所说的高温高湿测试，湿度抵抗是湿冷冻测试；
试验条件注意事项：
1000h 试验过程需在 250h 、 500h 进行间隔量测。
高温储存(MIL-STD-202-108)
薄膜电容、网络低通滤波器、网络电阻、热敏电阻、可变电容、可变电阻、陶瓷共鸣器、EMI 干扰抑制器、 EMI 干扰过滤器：85℃/1000h ；
电感、变压器、电阻：125℃/1000h ；
高温工作寿命(MIL-STD-202-108)
网络低通滤波器、网络电阻：85℃/1000h ；
EMI 干扰抑制器、 EMI 干扰过滤器：85℃/1000h/ 施加额定 IL ；
铝电解电容、电感、变压器：105℃/1000h ；
薄膜电容：1000h/(85℃/125% 额定电压、 105℃&125℃/100% 额定电压；
自恢复保险丝：125℃/1000h ；
电阻、热敏电阻、可变电容：125℃/1000h/ 额定电压；
变阻器：125℃/1000h/ 额定电压 85 ％ +ma 电流；
陶瓷共鸣器：85℃/1000h/ 额定 VDD+1MΩ ，并联逆变器，在每个晶体脚和地之间有 2X 的晶体 CL 电容；
石英震荡器：125℃/1000h/ 额定 VDD+1MΩ ，并联逆变器，在每个晶体脚和地之间有 2X 的晶体 CL 电容；
温度循环(JEDEC22A-104)
薄膜电容、可变电容、可变电阻、陶瓷共鸣器、EMI 干扰抑制器、 EMI 干扰过滤器： -55℃(30min)←→85℃(30min)/RAMP(15℃/min)/1000cycles ；
钽电容、陶瓷电容、电阻、热敏电阻： -55℃(30min)←→125℃(30min) /RAMP(15℃/min)/1000cycles ；
铝电解电容：-40℃(30min)←→105℃(30min) /RAMP(15℃/min)/1000cycles ；
电感、变压器、变阻器、石英震荡器、自恢复保险丝：-40℃(30min)←→125℃(30min)/RAMP(15℃/min)/1000cycles ；
网络低通滤波器、网络电阻： -55℃(30min)←→125℃(30min) /RAMP(15℃/min)/1000cycles ；
温度冲击(MIL-STD-202-107)
自恢复保险丝： -40℃(15min)←→125℃(15min)/300cycles ；
偏高湿度(MIL-STD-202-103)
钽电容、陶瓷电容：85℃/85%R.H./1000h/ 电压 1.3 ～ 1.5V ；
电感& 变压器：85℃/85%R.H./1000h/ 不通电；
铝电解电容：85℃/85%R.H./1000h/ 额定电压 ；
EMI 干扰抑制器、 EMI 干扰过滤器：85℃/85%R.H./1000h/ 额定电压＆电流；
电阻、热敏电阻：85℃/85%R.H./1000h/ 工作电源 10% ；
自恢复保险丝：85℃/85%R.H./1000h/ 额定电流 10% ；
可变电容、可变电阻：85℃/85%R.H./1000h/ 额定功率 10% ；
网络低通滤波器& 网络电阻：85℃/85%R.H./1000h/ 电压 [ 网络电容 ( 额定电压 ) 、网络电阻 (10% 额定功率 )] ；
变阻器：85℃/85%R.H./1000h/ 额定电压 85 ％ +ma 电流；
石英震荡器、陶瓷共鸣器：85℃/85%R.H./1000h/ 额定； VDD+1MΩ ，并联逆变器，在每个晶体脚和地之间有 2X 的晶体 CL 电容；
薄膜电容：40℃/93%R.H./1000h/ 额定电压；
湿度抵抗(MIL-STD-202-106)
薄膜电容：(25℃←→65℃/90%R.H.*2cycle)/18h→-10℃/3h ，每一 cycle 共 24h ， step7a&7b 不通电；
AEC-Q200 针对被动组件的最新分类
为了应对车用市场日新月异的发展，全球汽车电子最高殿堂 -汽车电子协会(Automotive Electronics Council，简称AEC) 在2023年3月20日改版了车用被动组件规范AEC-Q200，将组件种类由14项扩增至16项，增加了 铌电容器、保险丝、超级电容器、微调电阻器 等产品。
电容器：钽电容器（ MnO2和聚合物）和铌电容器、陶瓷电容器、铝电解电容器、薄膜电容器、超级电容器 电阻器：电阻、热敏电阻器、微调电容器 /电阻器、压敏电阻、 磁性元件：电磁（电感 /变压器） 频率元件：网络（ R-C/C/R）、石英晶体、陶瓷谐振器、铁氧体EMI干扰抑制器/过滤器 保险丝：聚合自恢复保险丝、保险丝
AEC-Q200新版下修了实验样品的数量
AEC-Q200总共有28项测试，原版本中依据测试项目不同，定义待测样品数量为15~77颗* 1 lot不等，但新版考虑不同组件类型、尺寸及制造成本差异，将实验样品数量下修改为3~77颗* 1 lot。
新版根据产品尺寸重新定义测试样品数量，新标准按照 <10cm3、10cm3≤x≤330cm3、＞330cm3三种规格确认测试样品数量，尺寸越大需要的样品数量越少;以温度循环为例，产品规格<10cm3需要77个样品，产品规格10cm3≤x≤330cm3需要26个样品，产品规格＞330cm3仅需要10个样品。
无铅SMD 须先完成 Reflow ，才能进行后续测试 对于 SMD无铅元件，需要满足特殊质量和AEC-Q005中规定了当使用无铅（无铅）工艺时出现的可靠性问题：无铅测试要求。无铅加工中使用的材料包括端接镀层以及板连接（焊料）。这些材料通常需要更高的板连接温度产生可接受的焊点质量和可靠性。这次AEC-Q200改版规范中也说明，为确保车用无铅被动组件不会因为经过无铅回焊(Reflow)后失效异常，因此定义部分可靠度测试项目需先完成Reflow之后，才可进行下一步骤。除此之外，对于尺寸不同的组件也规范了不同的测试次数。 有问题找刘工 13625289200
最后说明一下，最新版AEC-Q200中，对连接器(Connector)、天线(Antenna)等前期呼声较高的产品，并未纳入，也没有明确说明。因篇幅有限，本次AEC-Q200改版有非常多的细节，可咨询华碧实验室做进一步了解。 |
